非破壊的なテストのタイプ（LP/MP/UT/RX）

装置を傷つけないで溶接された関係の物理的なおよび機械特性を評価するのに使用される非破壊試験（、NDT短縮される）。共通の非破壊試験は目視検差、突き通る液体、磁気探傷の、レントゲン写真の（RX）および超音波検査（UT）である。

タイプの非破壊的なテスト

この記事では、私達は溶接された関係（例を検査するのに使用される共通の非破壊的なテスト技術を見直す:溶接された管、付属品または圧力装置）。非破壊試験はテストである装置を傷つけない;その代り有害なテストはプロダクトを傷つけるかもしれない。

目視検差（vi）

目視検差は最も簡単で、最も安い非破壊試験であり、すべての溶接は欠陥を確認する肉眼か拡大鏡を使用してこの基本的な方法に応じて、あるなる。

視覚で検査されるべきすべての表面は完全にきれいにならなければならない。この方法が表面の欠陥しか検出しないのに使用されている。

これらがあれば欠陥の範囲を発見するために、付加的なテストは用いられる。

溶接は点検のより多くの正確な方法によって検査されるべきでも安価のために基本的な視覚資料に、服従するべきである。

また欠陥が視覚で検出されれば、付加的な検査はこの関心領域のまわりで激化させることができる。

液体浸透（LP）

液体浸透（か浸透）非破壊試験（LPE）はオーステナイトのクロムのステンレス鋼のような非磁気、であると考慮される金属で使用される。

この技術は染料を含んでいる鋭い液体の表面適用を要求する。液体はあらゆる表面の欠陥に浸透する時間を与えられ余分な液体は取除かれる。表面が乾燥する溶接は検査される。欠陥は肉眼に目に見える染料の存在によって示される。

液体浸透はひびを検出する低価格テストまたは装置の表面の異常な気孔率である。

磁気探傷（MP）

炭素鋼のような強磁性材料の表面のひびを、検出するのに使用される磁気探傷検査（MPE）が非破壊的である。

ある低い合金は磁気がである、ステンレス鋼が非常に弱く磁気、このタイプの検査から従って除いたオーステナイト クロムは;これは後でカバーされる鋭い検査を染めるために服従する。MPE方法は肉眼に見えない良いひびを検出するために非常に有用である。

分析の下で検査を、溶接は電磁石によって遂行するためには最初に強く磁化される、そして磁気材料の粉体は、鉄または磁気酸化鉄のような表面に、加えられる。磁気粉はそれらを肉眼に目に見えるようにするあらゆる表面のひびの端に引き付けられる。

超音波テスト（UT）

500-5000のkHzの頻度の超音波（UT）波はターゲットの方の狭いビームとして送信される。欠陥が付いている金属表面に達することで、波は適した受信機に反映され、戻る。エコーのリターンに必要な時間は波によって覆われる道の長さの測定である。

もし使用するなら正しく、超音波方法はレントゲン写真術の正確さに近づくことができる。超音波テストの利点は装置が携帯用であることである;従って、UTは溶接が扱いにくい位置にあったりまたは場所で検査される必要があるとき有用である。

レントゲン写真 テスト（RXかRT）

レントゲン写真の（RT）検査は肉眼に見えない表面下の欠陥を検出するので、最も有用な非破壊試験である。

この方法は携帯用放射性同位体によって作り出されたガンマ線を使用して最初にX線を用いたが、今日接合箇所を検査することができる配管する。放射のすべてのもとは危険を伴い、露出によって広げ過ぎられる期間は避けなければならない。人員の保護は頻繁にレントゲン写真術を遂行している技術者のための条件である。

フィルムは溶接の1つの側面に置かれ、反対側で、溶接はフィルムの方にX線に服従する。X線が溶接を通ると同時に、表面のそして溶接を通したどの欠陥でも露光済フィルムの濃い影によって検出される。

欠陥は均一陰と明確ように出て来ない。レントゲン写真のフィルムの分析はかなりの経験を要求し、検出されるかもしれない欠陥はひび（表面および表面下の）および酸化膜によって引き起こされる表面下のキャビティを含んでいる;融合の欠乏;引っ掛けられたスラグ、変化、または輸入原料;そしてガス ポケット（気孔率）。

各レントゲン写真は溶接の数と溶接の厳密な位置を識別するために記録されなければレントゲン写真技術者および検査官の名前はまたリストされていなければならない。レントゲン写真は解釈に開いて、この活動に使用する人員が適切に修飾されることは必要である。